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日本Coper Electronics 介紹一種功率半導體熱阻測試儀瞬態(tài)熱阻測量儀

更新時間：2024-04-15      瀏覽次數(shù)：430
　　介紹一種功率半導體熱阻測試儀。
 
　　熱阻測量器
image.png
瞬態(tài)熱阻測試儀系列
 
　　瞬態(tài)熱阻測量儀是測量IGBT/MOS-FET/Diode/BJT等的瞬態(tài)熱阻的裝置。
 
　　BJT瞬態(tài)熱阻測量儀是向集電極·發(fā)射極間施加指的定的功率，使芯片溫度上升，求出其前后的微小電流(Im)引起的基極·發(fā)射極間電壓差(ΔVBE)的裝置。 這樣可以推測試料的熱阻。
 
　　IGBT瞬態(tài)熱阻測量儀與BJT瞬態(tài)熱阻測量儀一樣，是計算柵極發(fā)射極之間電壓差(ΔVGE)的測量儀。
 
　　P-MOS FET瞬態(tài)熱阻測量儀與BJT瞬態(tài)熱阻測量儀一樣，是計算柵極和源極之間電壓差(ΔVGS)的測量儀。
 
　　可以在BJT瞬態(tài)熱阻測試儀的基極、發(fā)射極之間測量二極管的δVF。
 
　　◇主要規(guī)格

施加電壓

2~30/100/600/1200V

通電電流

0.1至30/100/200/500/1000 a

電力施加寬度

100、200和500μs
1、2、5、10、20、50、100、200、500 ms
1S，2S，30S，DC

測量電流( Im )

1至1~99/199/999mA

測量范圍

ΔVBE: ~999/1999mV (但VBE MAX: 3V )
ΔVGS/VGE: ~999/1999/9990mV (但VGS/VGE MAX: 20V )

采樣點

Td 50~990μS
 
　　※熱電阻測量儀有功率限制，電壓、電流施加時間會限制可測量的區(qū)域。 此外，根據(jù)規(guī)格的不同，裝置的大小和重量會有很大的變化。 上述規(guī)格僅為一個例子，設計、制作需要詳細協(xié)商。
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